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醫(yī)用合成血穿透試驗(yàn)儀

公司成立時(shí)間是2010年公司創(chuàng)始人高永明先生在美國(guó)紡織行業(yè)里做技術(shù)顧問服務(wù)十三年之久后在澳大利亞PEGASUS天馬公司創(chuàng)始人楊澤銘先生推薦下長(zhǎng)期近5年時(shí)間共同開發(fā)轎跑飛機(jī)整個(gè)外形設(shè)計(jì)并合作整個(gè)飛機(jī)項(xiàng)目檢測(cè)，上海程斯智能（美國(guó)）科技有限公司擁有美國(guó)Sincerity 授權(quán)書成為分公司自成立以來就致力于紡織類色牢度，刮擦，透氣性，磨耗，燃燒，汗?jié)n，物性，拒水性，防水，皮革，等測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)推廣，涵括測(cè)試儀器、實(shí)驗(yàn)消耗品，及專業(yè)測(cè)試標(biāo)準(zhǔn)、測(cè)試方法手冊(cè)。

• 主要用途
  醫(yī)用合成血液穿透試驗(yàn)儀適用于在不同水平試驗(yàn)壓力下對(duì)合成血液穿透的抵抗能力。
  二、工作原理
  在持續(xù)施加的壓力下以合成血液對(duì)材料進(jìn)行試驗(yàn)，目視檢查材料上合成血液的穿透情況。
  三、儀器特征
  1、儀器采用可以提供（20±1）kPa氣壓的氣源對(duì)試樣持續(xù)加壓，不受試驗(yàn)場(chǎng)所空間限制。
  2、儀器具有壓力表顯示加壓壓力，加壓壓力可調(diào)。
  3、使用加壓介質(zhì)：壓縮空氣。
  4、特制不銹鋼穿透試驗(yàn)槽保證牢固夾持試樣，且防止合成血液四處噴濺。
  5、正方形金屬阻滯網(wǎng)：開放空間≥50%；在20kPa下彎曲≤5mm。
  6、數(shù)顯計(jì)時(shí)器，精度±1秒。
  7、儀器具有可以產(chǎn)生13.5Nm扭矩的夾鉗。
  8、儀器結(jié)構(gòu)與GB19082-2009標(biāo)準(zhǔn)中"試驗(yàn)儀器示意圖"及"試驗(yàn)槽結(jié)構(gòu)"相同。
  四、技術(shù)指標(biāo)
  1、壓力技術(shù)指標(biāo)壓力點(diǎn)：1.75 kpa；3.5kpa；7kpa；14kpa；20kpa
  2、試樣尺寸：75mm×75mm，受壓力面積：28.27平方厘米
  3、電源：AC220V，50Hz，100W

五、符合標(biāo)準(zhǔn)：

GB19083-2010：醫(yī)用防護(hù)熔噴濾料技術(shù)要求;
YY 0469-2011：醫(yī)用外科熔噴濾料;
YY/T0691-2008：傳染性病原體防護(hù)裝備醫(yī)用面罩抗合成血穿透性試驗(yàn)方法（固定體積，水平噴射）;
ISO 22509:2004;F1862/F1862M-2013

ASTM F1671 Phi-X174噬菌體穿透性作為試驗(yàn)系統(tǒng)測(cè)定材料抗血液攜帶病原體穿透性的試驗(yàn)方法；

ASTM F1670 材料抗人造血滲入性試驗(yàn)方法；
ASTM F903 用材料耐液體滲透性的試驗(yàn)方法；
ISO 16603:2004 防止與血液和體液接觸的確定對(duì)血液和體液的抗?jié)B透性合成               血液測(cè)試法；
ISO 16604:2004 防止與血液和體液接觸的確定材料對(duì)血液病原體的抗?jié)B透性使用Phi-X 174抗菌素測(cè)試法；
YY/T 0699-2008 液態(tài)化學(xué)品防護(hù)裝備材料抗加壓液體穿透性能測(cè)試方法；
YY/T 0689-2008 血液和體液防護(hù)裝備 材料抗血液傳播病原體穿透性能測(cè)試 Phi-X174噬菌體試驗(yàn)方法；YY/T 0700-2008 血液和體液防護(hù)裝備 材料抗血液和體液穿透性能測(cè)試 合成血試驗(yàn)方法；
GB/T 19082-2009 醫(yī)用一次性技術(shù)要求等標(biāo)準(zhǔn)。

主要經(jīng)營(yíng)的產(chǎn)品包括：汽車內(nèi)外飾刮擦測(cè)試儀器，顏色及色彩評(píng)價(jià)、、床墊測(cè)試儀器、地毯測(cè)試儀器、玩具測(cè)試儀、濕度測(cè)量&控制系統(tǒng)、土壤溫濕度計(jì)附件、紡織及服裝、無紡布及土工布測(cè)試儀、透氣性測(cè)試儀、單向耐磨儀、皮革及鞋材測(cè)試儀、過濾材料測(cè)試儀、交通工具類測(cè)試儀、 耐候及老化測(cè)試儀、高加速老化測(cè)試系統(tǒng)、烘箱環(huán)境設(shè)備、輕工及包裝材料測(cè)試儀、電子電器測(cè)試儀、光化光譜及其它測(cè)試儀